Pēc mijiedarbības veida tiek klasificētas absorbcijas, emisijas un izkliedes rentgenstaru spektroskopijas metodes. Visu metožu eksperimentos nepieciešams rentgenstaru avots, sistēma staru gaitas un kūļa formas kontrolei un detektors. Viena no visplašāk izmantotajām ierīcēm starojuma iegūšanai ir rentgenlampa. Tā sastāv no katoda, anoda un korpusa ar berilija lodziņu. Termoemisijas efekta rezultātā katodā tiek izstaroti elektroni, kas augstā (10‒100 kV) paātrinošā spriegumā tiek novirzīti uz anodu. Ietriecoties anoda materiālā, elektroni zaudē savu enerģiju, no kuras 99 % pārvēršas siltumā, bet pārējais – rentgenstarojumā. Mūsdienās arvien biežāk izmanto sinhrotronus – cikliskos daļiņu paātrinātājus –, kuros radītais augstas intensitātes elektromagnētiskais starojums ir ļoti plašā spektra diapazonā (no mikroviļņiem līdz gamma starojumam), turklāt tam ir impulsu struktūra un noteikta polarizācija, kas paver plašas iespējas spektroskopisko eksperimentu veikšanai. Lai rentgenstaru kūlim nodrošinātu vēlamās īpašības, tiek izmantoti speciāli kolimatori, spoguļi un monohromatori. Piemēroti rentgenstaru detektori ir gāzizlādes skaitītāji, scintilatori un pusvadītāju detektori.
Rentgenabsorbcijas spektroskopijā tiek pētīta rentgenstaru absorbcija vielas atomos. Absorbcijas malas dažādiem ķīmiskajiem elementiem ir unikālas, tādējādi to enerģijas vērtības var izmantot dažādu elementu identifikācijai. Rentgenabsorbcijas spektros pieņemts izdalīt apgabalu tuvu pie absorbcijas malas (X-ray absorption near edge structure, XANES) un paplašināto rentgenabsorbcijas sīkstruktūras (extended X-ray absorption fine structure, EXAFS) apgabalu. XANES reģions satur informāciju par absorbējošā atoma oksidācijas stāvokli, elektronisko struktūru un simetriju. EXAFS datu analīze var sniegt informāciju par absorbējošā atoma lokālo struktūru, tajā skaitā par starpatomu attālumiem tā tuvākajās koordinācijas sfērās. XANES un EXAFS rezultātu padziļinātai analīzei tiek veikta spektru skaitliska modelēšana.

Elektronisko pāreju shematisks attēlojums dažādās rentgenstaru spektroskopijas metodēs.
Rentgenstaru emisijas procesus, tas ir, no vielas izstaroto fotonu enerģijas atkarību, pēta rentgenstaru emisijas spektroskopijā. Atkarībā no ierosmes veida izšķir nerezonanses (non-resonant X-ray emission spectroscopy, XES) un rezonanses (resonant X-ray emission spectroscopy, RXES; arī resonant inelastic X-ray scattering, RIXS) rentgenstaru spetroskopijas metodes. Nedestruktīvai vielas elementu sastāva noteikšanai plaši izmanto rentgenstaru fluorescenci (X-ray fluorescence, XRF). Enerģijas dispersīvajā (energy-dispersive, ED) XRF rentgenstaru intensitāte tiek mērīta kā funkcija no to enerģijas. Šādas ierīces ir relatīvi kompaktas – ED XRF spektrometrus var integrēt elektronu mikroskopos un pat kosmosa izpētes zondēs, piemēram, Perseverance visurgājējā Marsa iežu sastāva analīzei. Alternatīva XRF mērījumu metodika ir ar viļņu garumu dispersiju (wavelength-dispersive, WD). WD XRF dažādu viļņa garumu atdalīšana tiek panākta ar monokristālu, kas kalpo kā difrakcijas režģis, un rentgenstaru intensitāte tiek mērīta katram viļņa garumam atsevišķi. Šādi mērījumi ir laikietilpīgāki, un spektrometra izmaksas ir ievērojami lielākas, taču to kompensē augstāka mērījumu izšķirtspēja un iespējas detektēt plašāku elementu klāstu, salīdzinot ar ED XRF.
Materiālu virsmu sastāva, struktūras un īpašību pētījumiem piemērota metode ir rentgenstaru fotoelektronu spektroskopija (X-ray photoelectron spectroscopy, XPS; arī electron spectroscopy for chemical analysis, ESCA). Tās darbības pamatā ir fotoefekts (photoelectric effect) – elektronu izsišana no materiāla elektromagnētiskā starojuma iedarbības rezultātā. Virsmu pētījumiem izmanto arī rentgenstaru atstarošanās (reflectivity) metodes. Rentgenstaru difrakciju (X-ray diffraction), kurā tiek pētīts elastīgi izkliedētais starojums, tradicionāli nodala no spektroskopijas.